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三坐標測量機的發(fā)展特征

更新時間:2021-01-05點擊次數:892

隨著計算機等硬件能力的提升以及圖像處理算法的不斷發(fā)展,都將提高影像測量儀系統的效率.實現微型零件由點測量模式向整體測量模式過渡。現有的影像測量儀技術受測量精度的制約,基本都是對微型零件中關鍵特征區(qū)域進行成像,從而實現關鍵特征點的測量,而難以對整個輪廓或整體特征點進行測量。
  追求品質,總之,在微型零件測量領域,三次元坐標測量機技術實現高精度化、率化將必然成為精密測量技術的重要發(fā)展方向。因而對圖像獲取的硬件系統、獲取圖像的質量、圖像邊緣的定位、系統標定等環(huán)節(jié)提出了更高的要求,具有應用前景和重要的意義。
  三次元坐標測量機測量精度進一步提升。隨著工業(yè)水平的不斷進步,對微型零件的精度要求也將進一步提高,因而也對影像測量儀技術的測量精度提出了更高的要求。同時,隨著圖像傳感器件的快速發(fā)展,高分辨率器件也為系統精度的提升創(chuàng)造了條件.

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